CSDL sách
- Ionizing radiation effects in mos oxides : international series on advances in solid state electronics and technology
- Tác giả: Timothy R Oldham
- Nhà xuất bản: World Scientific - Singapore
- Năm xuất bản: 1999
- Số trang:171 p.
- Kích thước:22 cm
- Số đăng ký cá biệt:26552
- ISBN:9810233264
- Mã Dewey:539.722
- Đơn giá:0
- Vị trí lưu trữ:Tồn kho (03 Quang Trung)
- Ngôn ngữ:English
- Loại tài liệu:Sách Tham Khảo
- Đang rỗi/ Tổng sách:10/10
- Từ khóa:Ionizing Radiation; Oxides
- Chủ đề: Ionizing radiation
- Chuyên ngành: Khoa Học Tự Nhiên
- Tóm tắt: The book summarizes the new work and integrates it with older work to form a unified picture. It is aimed primarily at specialists working on radiation effects and oxide reliability.
Sách cùng chuyên ngành
- Các thế giới song song : du hành qua sáng thế, các chiều không gian bậc cao và tương lai của vũ trụ
- Đời sống bí ẩn của cây : chúng cảm thấy gì, chúng giao tiếp thế nào, những phát hiện từ thế giới bí mật
- Tần số rung động : quyền năng tiến hóa của linh hồn
- The identification of dark matter : proceedings of the 6th International workshop, Rhodes, Greece, 11-16 september 2006
- Selected papers of Richard Feynman : with commentary