Quý bạn đọc có thể đóng góp ý kiến gởi về địa chỉ email: library@duytan.edu.vn để cùng chúng tôi xây dựng Thư viện Đại học Duy Tân ngày càng phát triển.
Ionizing Radiation Effects in Mos Oxides. International Series on advances in solid state electronics and technology
Tác giả: Timothy R Oldham
The book summarizes the new work and integrates it with older work to form a unified picture. It is aimed primarily at specialists working on radiation effects and oxide reliability.