Nghiên cứu sự biến đổi điện não đồ của sinh viên Đại học Y sau căng thẳng của kỳ thi
Nhóm Tác giả: Nguyễn Thị Hiên, Lê Đức Cường, Lã Kim Chi, Lại Ngọc Thắng,..
Số trang:
Tr. 58-63
Tên tạp chí:
Y học thực hành
Số phát hành:
Số 06 (1013)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
610
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Điện não đồ, stress, kỳ thi
Chủ đề:
Điện não đồ
Tóm tắt:
Nghiên cứu sự thay đổi tần số, biên độ, chỉ số các chỉ số sóng anpha, beta, teta trên điện não đồ của sinh viên trong trạng thái tĩnh và sau buổi thi.
Tạp chí liên quan
- Đánh giá thị giác của trẻ cận thị sử dụng tròng kính vi thấu kính phi cầu bậc cao
- Vai trò của câu lạc bộ sức khỏe cộng đồng trong dự phòng đột quỵ não ở người bệnh tăng huyết áp
- Bảo quản tài sản thi hành án và một số vấn đề cần hoàn thiện
- Tính giá trị và độ tin cậy của thang đo ngược đãi trẻ em ICAST - C: Nghiên cứu tại một trường trung học cơ sở tại huyện Hiệp Hòa, tỉnh Bắc Giang
- Sử dụng thang đo Short Mood and Feelings Questionnaire đánh giá trầm cảm ở học sinh lớp 6 của một trường THCS tại Hà Nội