Nghiên cứu sự biến đổi điện não đồ của sinh viên Đại học Y sau căng thẳng của kỳ thi
Nhóm Tác giả: Nguyễn Thị Hiên, Lê Đức Cường, Lã Kim Chi, Lại Ngọc Thắng,..
Số trang:
Tr. 58-63
Tên tạp chí:
Y học thực hành
Số phát hành:
Số 06 (1013)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
610
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Điện não đồ, stress, kỳ thi
Chủ đề:
Điện não đồ
Tóm tắt:
Nghiên cứu sự thay đổi tần số, biên độ, chỉ số các chỉ số sóng anpha, beta, teta trên điện não đồ của sinh viên trong trạng thái tĩnh và sau buổi thi.
Tạp chí liên quan
- Phát hiện mới về rối loạn giấc ngủ REM vô căn và bệnh Parkinson
- Đặc điểm gen KRAS, BRAF, các gen sửa chữa ghép cặp sai (MMR) và tình trạng biểu hiện protein MMR ở người bệnh ung thư đại trực tràng
- Nhiễm khuẩn vết mổ và một số yếu tố liên quan tại Bệnh viện huyện Củ Chi
- Độ nhạy, độ đặc hiệu của thang điểm Aphasia Rapid Test trong sàng lọc thất ngôn ở người bệnh đột quỵ não
- Đặc điểm hình thái vùng nối dạ dày thực quản trên đo áp lực và nhu động thực quản độ phân giải cao ở bệnh nhân có triệu chứng trào ngược