Nghiên cứu chế tạo và thử nghiệm hệ ghi nhận ảnh hưởng bức xạ kỹ thuật số bằng phương pháp huỳnh quang
Tác giả: Trần Đăng Mạnh, Trần Văn Tuyển, Vũ Tiến Hà
Số trang:
Tr. 32-38
Tên tạp chí:
Khoa học & Công nghệ Việt Nam
Số phát hành:
Tập 5 số 6/2016
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
621
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Huỳnh quang kỹ thuật số, nhiễu, số hóa, tỷ lệ tương phản – nhiễu
Chủ đề:
Kỹ thuật Số
Tóm tắt:
Đề cập đến việc thiết kế chế tạo và thử nghiệm hệ ghi nhận ảnh bức xạ kỹ thuật số bằng phương pháp huỳnh quang dựa trên các thiết bị và vật tư sẵn có nhưng chưa từng được dùng cho mục đích này, sau đó đánh giá khả năng đáp ứng của hệ khi đưa vào sử dụng dựa trên các yêu cầu tiêu chuẩn ASTM E2597 bao gồm độ phân giải không gian, tỷ lệ tín hiệu – nhiễu, hiệu suất, độ nhạy tương phản và dải bề dày đặc trưng của vật liệu. Trong quá trình đánh giá các đặc tính kỹ thuật, nhóm nghiên cứu đồng thời cũng xây dựng được các đường cong đặc trưng tương ứng của hệ thiết bị.
Tạp chí liên quan
- Điện hạt nhân Trung Quốc - Hiện tại và tương lai
- AI đáng tin cậy và các nguyên tắc thực thi
- Một số đề xuất ban hành bộ quy tắc về sử dụng trí tuệ nhân tạo trong giáo dục và đào tạo ở Việt Nam
- 5 yếu tố tiền đề của tương tác giữa người và máy trong kỷ nguyên trí tuệ nhân tạo
- Những triết lý nhân văn trong tầm nhìn xã hội 5.0 tại Nhật Bản và một vài gợi ý cho Việt Nam