Tính toán rủi ro sét đánh trạm gốc và đề xuất sử dụng kỹ thuật phủ sóng hai lớp chép Cell trong hệ thống GSM-R
Tác giả: Lê Trường Sinh, PGS. TS. Nguyễn Duy Việt, TS. Trịnh Quang Khải
Số trang:
Tr. 21-26
Tên tạp chí:
Công nghệ thông tin và truyền thông
Số phát hành:
Số kỳ 1 tháng 9/2013
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
621
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Hệ thống GSM-R, sét đánh, kỹ thuật phủ sóng hai lớp, tính toán rủi ro sét đánh trạm gốc
Tóm tắt:
Kỹ thuật phủ sóng đơn lớp trong mạng GSM-R chưa đảm bảo chất lượng và độ tin cậy. Vì thế, kỹ thuật phủ sóng hai lớp được áp dụng. Tuy nhiên, việc quy hoạch mạng cần lựa chọn giải pháp: Phủ sóng hai lớp cùng vị trí cell hay phủ sóng hai lớp chéo cell. Bài báo tính toán rủi ro sét đánh trạm gốc của hệ thống GSM-R và đề xuất sử dụng kỹ thuật phủ sóng hai lớp liên kết chéo cell trong mạng GSM-R ứng dụng vào đường sắt tốc độ cao.
Tạp chí liên quan
- Điện hạt nhân Trung Quốc - Hiện tại và tương lai
- AI đáng tin cậy và các nguyên tắc thực thi
- Một số đề xuất ban hành bộ quy tắc về sử dụng trí tuệ nhân tạo trong giáo dục và đào tạo ở Việt Nam
- 5 yếu tố tiền đề của tương tác giữa người và máy trong kỷ nguyên trí tuệ nhân tạo
- Những triết lý nhân văn trong tầm nhìn xã hội 5.0 tại Nhật Bản và một vài gợi ý cho Việt Nam