Hội chứng dễ bị tổn thương theo thang điểm SEGA ở người cao tuổi mắc đái tháo đường typ 2 tại bệnh viện 19-8
Tác giả: Trần Viết Lực, Vũ Thị Dịu, Vũ Thu Thuỷ, Nguyễn Xuân Thanh, Nguyễn Trung Anh, Vũ Thị Thanh Huyền
Số trang:
Tr. 53-64
Số phát hành:
Tập 175 - Số 02 - Tháng 3
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
610
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Người cao tuổi, Hội chứng dễ bị tổn thương, SEGA, đái tháo đường
Chủ đề:
Đái tháo đường
&
Người cao tuổi
Tóm tắt:
Nghiên cứu nhằm đánh giá hội chứng dễ bị tổn thương theo thang điểm đánh giá lão khoa cấp cứu rút gọn (Short Emergency Geriatric Assessment - SEGA) ở người cao tuổi mắc đái tháo đường typ 2 tại bệnh viện 19-8. Nghiên cứu mô tả cắt ngang trên 512 người bệnh ≥ 60 tuổi được chẩn đoán ĐTĐ điều trị tại bệnh viện 19-8.
Tạp chí liên quan
- Đặc điểm gen KRAS, BRAF, các gen sửa chữa ghép cặp sai (MMR) và tình trạng biểu hiện protein MMR ở người bệnh ung thư đại trực tràng
- Nhiễm khuẩn vết mổ và một số yếu tố liên quan tại Bệnh viện huyện Củ Chi
- Độ nhạy, độ đặc hiệu của thang điểm Aphasia Rapid Test trong sàng lọc thất ngôn ở người bệnh đột quỵ não
- Đặc điểm hình thái vùng nối dạ dày thực quản trên đo áp lực và nhu động thực quản độ phân giải cao ở bệnh nhân có triệu chứng trào ngược
- Đánh giá mức độ sạch và tuân thủ phác đồ chuẩn bị nội soi đại tràng có sử dụng phần mềm điện thoại thông minh