CSDL Bài trích Báo - Tạp chí
Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Kết hợp phương pháp phân ngưỡng và Graphcut trong phân tích ảnh y khoa để hỗ trợ chẩn đoán
- Một hướng tiếp cận nâng cao hiệu quả phát hiện mặt người trong ảnh
- Đào tạo theo dự án giải pháp xanh tái sử dụng vỏ chai nhựa (Poly Ethylene Terephtalate -PET)
- Giới thiệu hệ thống tự động kiểm tra khuyết tật hàn với bản đồ 3D
- Cấu trúc kiểm chứng thiết kế cho bộ cộng toàn phần 4-bit dựa trên phương pháp xác minh phổ quát