Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Lợi ích và thách thức của ứng dụng trí tuệ nhân tạo trong nghiên cứu khoa học vật liệu
- Phát triển hệ thống cảm biến điện cơ từ vật liệu nano graphene
- Đà Nẵng tập trung đầu tư lĩnh vực vi mạch bán dẫn và trí tuệ nhân tạo
- Nâng cao hiệu quả nhận dạng các tham số dao động dựa trên kỹ thuật tách nguồn mù
- Thăng giáng exciton ngưng tụ của hệ điện tử - lỗ trống mất cân bằng khối lượng