Phân tích giới hạn và thích nghi các tấm mỏng chịu uốn bằng thuật toán đối ngẫu
Tác giả: Giáp Văn Tấn, Trần Thanh Ngọc, Nguyễn Thị Thùy Liên
Số trang:
Tr. 84-89
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 8
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Thuật toán đối ngẫu, tấm chịu uốn, lập trình phi tuyến, giới hạn, thích nghi
Chủ đề:
Thuật toán
&
Kỹ thuật Xây dựng
Tóm tắt:
Trình bày thuật toán đối ngẫu của việc phân tích giới hạn và thích nghi các tấm mỏng chịu uốn. Dựa trên tiêu chuẩn chảy dẻo Von Mises và phép tối ưu hóa phi tuyến, bài báo sẽ phát triển một thuật toán đối ngẫu để tính toán đồng thời cận trên và cận dưới của giới hạn phá hoại dẻo và giới hạn thích nghi.
Tạp chí liên quan
- Ảnh hưởng của bức xạ gamma đến tính chất quang của chấm lượng tử CdSe
- Ảnh hưởng của độ dày lớp điện môi lên trạng thái ngưng tụ exciton trong cấu trúc graphene hai lớp
- Đánh giá tình hình nhiễm vi khuẩn Escherichia Coli, Salmonellas spp. trên thịt lợn tại một số chợ trọng điểm trên địa bàn thành phố Quy Nhơn, tỉnh Bình Định
- Efficient, column-chromatography-free synthesis of Dipterocarpol succinate oxime ester salts
- Protective effects of methanolic extract of Bauhinia vahlii L. in sepsis rats induced by cecal ligation and puncture





