Nghiên cứu chế tạo và thử nghiệm hệ ghi nhận ảnh hưởng bức xạ kỹ thuật số bằng phương pháp huỳnh quang
Tác giả: Trần Đăng Mạnh, Trần Văn Tuyển, Vũ Tiến Hà
Số trang:
Tr. 32-38
Tên tạp chí:
Khoa học & Công nghệ Việt Nam
Số phát hành:
Tập 5 số 6/2016
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
621
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Huỳnh quang kỹ thuật số, nhiễu, số hóa, tỷ lệ tương phản – nhiễu
Chủ đề:
Kỹ thuật Số
Tóm tắt:
Đề cập đến việc thiết kế chế tạo và thử nghiệm hệ ghi nhận ảnh bức xạ kỹ thuật số bằng phương pháp huỳnh quang dựa trên các thiết bị và vật tư sẵn có nhưng chưa từng được dùng cho mục đích này, sau đó đánh giá khả năng đáp ứng của hệ khi đưa vào sử dụng dựa trên các yêu cầu tiêu chuẩn ASTM E2597 bao gồm độ phân giải không gian, tỷ lệ tín hiệu – nhiễu, hiệu suất, độ nhạy tương phản và dải bề dày đặc trưng của vật liệu. Trong quá trình đánh giá các đặc tính kỹ thuật, nhóm nghiên cứu đồng thời cũng xây dựng được các đường cong đặc trưng tương ứng của hệ thiết bị.
Tạp chí liên quan
- Mối liên quan giữa một số đặc điểm lâm sàng và giải phẫu bệnh của sarcôm tạo xương với dấu ấn SATB2
- Đặc điểm mô bệnh học và hóa mô miễn dịch sarcoma màng hoạt dịch tại Bệnh viện K
- Nghiên cứu dấu hiệu lâm sàng và đặc điểm giải phẫu bệnh của bệnh viêm da cơ
- Đánh giá biểu hiện của thụ thể androgen trên bệnh ung thư vú bộ ba âm tính bằng phương pháp hóa mô miễn dịch
- Nghiên cứu đặc điểm hoá mô miễn dịch của EGFR và các dấu ấn CK, p63, Vimentin trong ung thư biểu mô vú dị sản tại Bệnh viện K





