Phân tích phi tuyến hình học dàn phẳng dựa trên nguyên lí cực trị Gauss
Tác giả: ThS. Phạm Văn Đạt
Số trang:
Tr. 76-78
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 07/2013
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Dàn phẳng, phi tuyến hình học, nguyên lý cực trị Gauss.
Tóm tắt:
Trình bày phương pháp phân tích phi tuyến hình học dàn phẳng dựa trên nguyên lý cực trị Gaus. Chuyển vị của các nút là lời giải của bài toán tìm cực trị của một phiếm hàm. Việc khảo sát hai ví dụ: phân tích dàn siêu tĩnh và tĩnh định, cho thấy sự khác biệt lớn giữa các kết quả phân tích tuyến tính và các kết quả phân tích phi tuyến.
Tạp chí liên quan
- Giải pháp giảm nhiễu cho các tín hiệu mới trong các hệ thống định vị sử dụng vệ tinh
- Ảnh hưởng của cường độ bê tông đến ứng xử cắt của dầm cao bê tông sợi thép
- Phân tích tĩnh tấm FGM có vi bọt rỗng trên nền đàn hồi dưới tác dụng tải trọng cơ học, nhiệt độ và độ ẩm theo lý thuyết biến dạng cắt bậc nhất
- Phân tích dao động của tấm Sandwich Nano Graphene đàn hồi-điện-từ đặt trên nền đàn hồi Winkler-Pasternak
- Đặc điểm cường độ đất yếu gia cố bằng các loại tro xỉ khác nhau