Tóm tắt:

Trong nghiên cứu này, vật liệu thủy tinh xAl2O3 ˗ (100-x)SiO2 (x = 5, 10, 15, 20) pha tạp CuO được chế tạo bằng phương pháp sol-gel. Cấu trúc vật liệu sau khi chế tạo được khảo sát bằng nhiễu xạ tia X, kết quả chỉ ra sự hình thành cấu trúc vô định hình đặc trưng của thủy tinh. Hình thái bề mặt của các mẫu thủy tinh được đánh giá thông qua ảnh hiển vi điện tử quét (SEM) và hình ảnh SEM cho thấy các mẫu thủy tinh sau khi chế tạo có sự đồng đều cao. Các nguyên tố trong các mẫu thủy tinh cũng được đánh giá thông qua phổ tán sắc năng lượng (EDS) và sự có mặt của ion Cu2+ còn được thể hiện thông qua phổ hấp thụ quang học.