Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Đánh giá diễn biến chất lượng nước sông đa độ và các giải pháp công nghệ xử lý nước hướng tới cấp nước an toàn
- Phương pháp xác định các hệ số thực nghiệm theo lý thuyết cắt đất của Vetrov đối với răng cắt đất trên thiết bị công tác đào rãnh hẹp
- Nghiên cứu thực nghiệm ứng xử nén đúng tâm của khối xây gạch đất xi măng dạng tự chèn
- Mô hình tựa ba chiều đơn giản trong phân tích dao động tự do của tấm sandwich FGM có vi bọt rỗng
- Giá trị bền vững trong phát triển kiến trúc tại Việt Nam