Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Khoa học và công nghệ phục vụ tăng trưởng xanh, kinh tế tuần hoàn, giảm phát thải khí nhà kính tại Việt Nam
- Máy tính lượng tử, cơ hội và thách thức đối với an toàn an ninh
- Trắc nghiệm thích ứng trên máy tính: Giải pháp mới đánh giá năng lực thí sinh
- Nghiên cứu hóa học về lipid và phát triển các chuỗi sản phẩm từ sinh vật biển Việt Nam
- Ứng dụng mô hình quản trị tinh gọn tích hợp số hóa dịch vụ khám chữa bệnh ngoại trú