Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Ảnh hưởng của bức xạ gamma đến tính chất quang của chấm lượng tử CdSe
- Ảnh hưởng của độ dày lớp điện môi lên trạng thái ngưng tụ exciton trong cấu trúc graphene hai lớp
- Đánh giá tình hình nhiễm vi khuẩn Escherichia Coli, Salmonellas spp. trên thịt lợn tại một số chợ trọng điểm trên địa bàn thành phố Quy Nhơn, tỉnh Bình Định
- Efficient, column-chromatography-free synthesis of Dipterocarpol succinate oxime ester salts
- Protective effects of methanolic extract of Bauhinia vahlii L. in sepsis rats induced by cecal ligation and puncture



