Nghiên cứu chiều dày lớp phủ Plasma vật liệu gốm Al2O3 – TiO2 bằng phương pháp kim tam học
Tác giả: Vũ Dương, Nguyễn Thanh Tùng629.8
Số trang:
Tr. 41-50
Số phát hành:
Số 03(52)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
629.8
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Plasma, kỹ thuật số, phương pháp kim tam học
Tóm tắt:
Bài báo giới thiệu kết quả thực nghiệm xác định chiều dày lớp phủ plasma từ bột phun hệ gốm trên bề mặt thép nền các bon C45 trong quy mô phòng thí nghiệm bằng phương pháp kim tương học, sử dụng kính hiển vi quang học 25 Mat có tích hợp phần mềm phân tích ảnh kỹ thuật số.
Tạp chí liên quan
- Xuất khẩu giáo dục đại học của Việt Nam sang châu Phi: Thuận lợi, khó khăn và một số giải pháp
- Sự tiến hóa của lớp vỏ hạt nhân trong các đồng vị giàu neutron N=32 và N=34
- Khảo sát quá trình thủy nhiệt TiO2 sử dụng dung môi sâu eutectic để ứng dụng trong pin mặt trời chất màu nhạy quang
- Dự báo biến đổi địa cơ học trong khối đá có đứt gãy xung quanh công trình ngầm chịu động đất
- Định lượng catalpol trong củ giống Địa hoàng 19 thu hái ở Phú Thọ bằng sắc ký lỏng hiệu năng cao