Khảo sát một số tính chất phi cổ điển của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Tác giả: Đặng Hữu Định
Số trang:
Tr. 42-50
Tên tạp chí:
Khoa học và Công nghệ (Trường Đại học Công Nghiệp Tp. Hồ Chí Minh)
Số phát hành:
Tr. 42-50
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
513
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Nén tổng, nén hiệu, tính phản kết chùm bậc cao, điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Chủ đề:
Modems
Tóm tắt:
Nghiên cứu các tính chất phi cổ điển như nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ. Từ đó đưa ra các biểu thức giải tích cho cấp độ nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode.
Tạp chí liên quan
- Ảnh hưởng của bức xạ gamma đến tính chất quang của chấm lượng tử CdSe
- Ảnh hưởng của độ dày lớp điện môi lên trạng thái ngưng tụ exciton trong cấu trúc graphene hai lớp
- Đánh giá tình hình nhiễm vi khuẩn Escherichia Coli, Salmonellas spp. trên thịt lợn tại một số chợ trọng điểm trên địa bàn thành phố Quy Nhơn, tỉnh Bình Định
- Efficient, column-chromatography-free synthesis of Dipterocarpol succinate oxime ester salts
- Protective effects of methanolic extract of Bauhinia vahlii L. in sepsis rats induced by cecal ligation and puncture





