Khảo sát một số tính chất phi cổ điển của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Tác giả: Đặng Hữu Định
Số trang:
Tr. 42-50
Tên tạp chí:
Khoa học và Công nghệ (Trường Đại học Công Nghiệp Tp. Hồ Chí Minh)
Số phát hành:
Tr. 42-50
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
513
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Nén tổng, nén hiệu, tính phản kết chùm bậc cao, điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Chủ đề:
Modems
Tóm tắt:
Nghiên cứu các tính chất phi cổ điển như nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ. Từ đó đưa ra các biểu thức giải tích cho cấp độ nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode.
Tạp chí liên quan
- Thực trạng hoạt động quản lý chất lượng dịch vụ khám bệnh, chữa bệnh ở các bệnh viện đa khoa công lập hạng II tại thành phố Hà Nội năm 2024
- Đánh giá tác động của đột biển gen IDH1 và sự methyl hóa gen MGMT đến thời gian sống thêm toàn bộ trên bệnh nhân u nguyên bào thần kinh đệm
- Xác định đột biến gen EIF4G1 trên bệnh nhân Parkinson
- Tỷ lệ hiện mắc, các yếu tố nguy cơ và kết quả điều trị tổn thương thận cấp tại Khoa Hồi sức tích cực, Bệnh viện Đa khoa tỉnh Vĩnh Phúc
- Chuyển đổi số, khả năng vượt các rào cản xuất khẩu và tác động đến kết quả xuất khẩu của doanh nghiệp