Khảo sát một số tính chất phi cổ điển của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Tác giả: Đặng Hữu Định
Số trang:
Tr. 42-50
Tên tạp chí:
Khoa học và Công nghệ (Trường Đại học Công Nghiệp Tp. Hồ Chí Minh)
Số phát hành:
Tr. 42-50
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
513
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Nén tổng, nén hiệu, tính phản kết chùm bậc cao, điện tích biến dạng chẵn và lẻ
Chủ đề:
Modems
Tóm tắt:
Nghiên cứu các tính chất phi cổ điển như nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode của trạng thái kết hợp điện tích biến dạng chẵn và lẻ. Từ đó đưa ra các biểu thức giải tích cho cấp độ nén tổng hai mode, nén hiệu hai mode và phản kết chùm bậc cao đơn mode.
Tạp chí liên quan
- Bước đầu khảo sát đặc điểm biến thể xoang tĩnh mạch sọ não trên MRI ở bệnh nhân đau đầu mạn tính
- Độ sâu xâm lấn trên cộng hưởng từ và tình trạng di căn hạch cổ ở ung thư lưỡi
- U thận chứa mỡ ở trẻ em: Báo cáo ca bệnh u quái thận nguyên phát và u nguyên bào thận dạng quái
- Đánh giá độ dày xương và mô mềm khẩu cái trên phim CBCT (Cone-Beam Computed Tomography)
- Nhận thức về vi-rút HPV của sinh viên y dược: Từ những hiểu lầm về phòng bệnh đến sự thiếu hụt kiến thức ở nam giới





