CSDL sách

Trở về
.jpg
  • IDDQ testing of VLSI circuits (Kluwer international series in engineering & computer science)
  • Tác giả: Ravi K. Gulati, Charles F. Hawkins
  • Nhà xuất bản: Kluwer Academic publishers - Boston
  • Năm xuất bản: 1993
  • Số trang:120 p.
  • Kích thước:25 cm.
  • Số đăng ký cá biệt:32156
  • ISBN:0792393155
  • Mã Dewey:621.395
  • Đơn giá:0
  • Vị trí lưu trữ:Tồn kho (03 Quang Trung)
  • Ngôn ngữ:English
  • Loại tài liệu:Sách Chuyên ngành
  • Đang rỗi/ Tổng sách:1/1
  • Từ khóa:Intergrated circuits; Metal oxide semiconductors
  • Chủ đề: Interactive multimedia--Authoring programs
  • Chuyên ngành: Khoa Điện - Điện tử
  • Tóm tắt: Quiescent power current testing of CMOS intergrated circuits is a technique for production quality and reliability improvement, design validation, and failure analysis. It has been used for many years by a few companies and is now receiving wide acceptance as an industry tool. This article begins with a brief history of CMOS ÍC to provide perspective on the origin of IDDQ testing,...
Sách cùng chuyên ngành
Sách cùng chủ đề