Phân tích mất ổn định tấm micro nhiều lớp trên cơ sở lý thuyết ứng suất hiệu chỉnh và phương pháp phân tích đẳng hình học
Tác giả: Lê Thanh Cường
Số trang:
Tr. 186-191
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 03
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Ổn định, tấm micro nhiều lớp, tham số tỉ lệ, đẳng hình học
Chủ đề:
Ổn định công trình
Tóm tắt:
Trong bài báo này, một mô hình số được phát triển cho bài toán mất ổn định của tấm composite nhiều lớp với kích thước micro. Phương trình tổng quát được thiết lập dựa trên lý tấm Reissner-Mindlin và lý thuyết ứng suất couple hiệu chỉnh mới và được giải bằng phương pháp phần tử hữu hạn đẳng hình học. Một tham số kích thước tỉ lệ được dùng để tính toán ứng xử của tấm micro. Độ chính xác của phương pháp được kiểm tra thông qua sự so sánh kết quả đạt được với các phương pháp tham khảo. Thêm vào đó một số ví dụ được thực hiện để kiểm tra sự ảnh hưởng của tham số tỉ lệ, hướng sợi điều kiện biên lên mất ổn định của tấm micro nhiều lớp.
Tạp chí liên quan
- Ảnh hưởng của cường độ bê tông đến ứng xử cắt của dầm cao bê tông sợi thép
- Phân tích tĩnh tấm FGM có vi bọt rỗng trên nền đàn hồi dưới tác dụng tải trọng cơ học, nhiệt độ và độ ẩm theo lý thuyết biến dạng cắt bậc nhất
- Tính toán giảm phát thải khí nhà kính từ chuyển đổi phương tiện giao thông theo hướng xanh hơn
- Phân tích dao động của tấm Sandwich Nano Graphene đàn hồi-điện-từ đặt trên nền đàn hồi Winkler-Pasternak
- Đánh giá khả năng chuyển đổi các cụm công nghiệp Hà Nội sang cụm công nghiệp thông minh – xanh đáp ứng chuyển đổi số và chuyển đổi xanh