Phân tích mất ổn định tấm micro nhiều lớp trên cơ sở lý thuyết ứng suất hiệu chỉnh và phương pháp phân tích đẳng hình học
Tác giả: Lê Thanh Cường
Số trang:
Tr. 186-191
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 03
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Ổn định, tấm micro nhiều lớp, tham số tỉ lệ, đẳng hình học
Chủ đề:
Ổn định công trình
Tóm tắt:
Trong bài báo này, một mô hình số được phát triển cho bài toán mất ổn định của tấm composite nhiều lớp với kích thước micro. Phương trình tổng quát được thiết lập dựa trên lý tấm Reissner-Mindlin và lý thuyết ứng suất couple hiệu chỉnh mới và được giải bằng phương pháp phần tử hữu hạn đẳng hình học. Một tham số kích thước tỉ lệ được dùng để tính toán ứng xử của tấm micro. Độ chính xác của phương pháp được kiểm tra thông qua sự so sánh kết quả đạt được với các phương pháp tham khảo. Thêm vào đó một số ví dụ được thực hiện để kiểm tra sự ảnh hưởng của tham số tỉ lệ, hướng sợi điều kiện biên lên mất ổn định của tấm micro nhiều lớp.
Tạp chí liên quan
- Khoa học và công nghệ phục vụ tăng trưởng xanh, kinh tế tuần hoàn, giảm phát thải khí nhà kính tại Việt Nam
- Máy tính lượng tử, cơ hội và thách thức đối với an toàn an ninh
- Trắc nghiệm thích ứng trên máy tính: Giải pháp mới đánh giá năng lực thí sinh
- Nghiên cứu hóa học về lipid và phát triển các chuỗi sản phẩm từ sinh vật biển Việt Nam
- Ứng dụng mô hình quản trị tinh gọn tích hợp số hóa dịch vụ khám chữa bệnh ngoại trú