Phân tích mất ổn định tấm micro nhiều lớp trên cơ sở lý thuyết ứng suất hiệu chỉnh và phương pháp phân tích đẳng hình học
Tác giả: Lê Thanh Cường
Số trang:
Tr. 186-191
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 03
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Ổn định, tấm micro nhiều lớp, tham số tỉ lệ, đẳng hình học
Chủ đề:
Ổn định công trình
Tóm tắt:
Trong bài báo này, một mô hình số được phát triển cho bài toán mất ổn định của tấm composite nhiều lớp với kích thước micro. Phương trình tổng quát được thiết lập dựa trên lý tấm Reissner-Mindlin và lý thuyết ứng suất couple hiệu chỉnh mới và được giải bằng phương pháp phần tử hữu hạn đẳng hình học. Một tham số kích thước tỉ lệ được dùng để tính toán ứng xử của tấm micro. Độ chính xác của phương pháp được kiểm tra thông qua sự so sánh kết quả đạt được với các phương pháp tham khảo. Thêm vào đó một số ví dụ được thực hiện để kiểm tra sự ảnh hưởng của tham số tỉ lệ, hướng sợi điều kiện biên lên mất ổn định của tấm micro nhiều lớp.
Tạp chí liên quan
- Hình ảnh điểm đến ảnh hưởng đến ý định quay trở lại tỉnh Bình Thuận của du khách nội địa
- Các yếu tố tác động đến hiệu quả xanh của các doanh nghiệp tại Thành phố Hồ Chí Minh
- Phương tiện truyền thông xã hội và hiệu quả thu hút khách hàng tại Thành phố Hồ Chí Minh
- Một số giải pháp hoàn thiện công tác quản trị chất lượng toàn diện tại ngân hàng
- Kinh nghiệm quản lý nhà nước đối với doanh nghiệp có vốn đầu tư trực tiếp nước ngoài ở một số địa phương và bài học cho chính quyền tỉnh Bắc Ninh