Phân tích mất ổn định tấm micro nhiều lớp trên cơ sở lý thuyết ứng suất hiệu chỉnh và phương pháp phân tích đẳng hình học
Tác giả: Lê Thanh Cường
Số trang:
Tr. 186-191
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 03
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Ổn định, tấm micro nhiều lớp, tham số tỉ lệ, đẳng hình học
Chủ đề:
Ổn định công trình
Tóm tắt:
Trong bài báo này, một mô hình số được phát triển cho bài toán mất ổn định của tấm composite nhiều lớp với kích thước micro. Phương trình tổng quát được thiết lập dựa trên lý tấm Reissner-Mindlin và lý thuyết ứng suất couple hiệu chỉnh mới và được giải bằng phương pháp phần tử hữu hạn đẳng hình học. Một tham số kích thước tỉ lệ được dùng để tính toán ứng xử của tấm micro. Độ chính xác của phương pháp được kiểm tra thông qua sự so sánh kết quả đạt được với các phương pháp tham khảo. Thêm vào đó một số ví dụ được thực hiện để kiểm tra sự ảnh hưởng của tham số tỉ lệ, hướng sợi điều kiện biên lên mất ổn định của tấm micro nhiều lớp.
Tạp chí liên quan
- Mối liên quan giữa một số đặc điểm lâm sàng và giải phẫu bệnh của sarcôm tạo xương với dấu ấn SATB2
- Đặc điểm mô bệnh học và hóa mô miễn dịch sarcoma màng hoạt dịch tại Bệnh viện K
- Nghiên cứu dấu hiệu lâm sàng và đặc điểm giải phẫu bệnh của bệnh viêm da cơ
- Đánh giá biểu hiện của thụ thể androgen trên bệnh ung thư vú bộ ba âm tính bằng phương pháp hóa mô miễn dịch
- Nghiên cứu đặc điểm hoá mô miễn dịch của EGFR và các dấu ấn CK, p63, Vimentin trong ung thư biểu mô vú dị sản tại Bệnh viện K





