Phân tích mất ổn định tấm micro nhiều lớp trên cơ sở lý thuyết ứng suất hiệu chỉnh và phương pháp phân tích đẳng hình học
Tác giả: Lê Thanh Cường
Số trang:
Tr. 186-191
Tên tạp chí:
Xây dựng
Số phát hành:
Số 03
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
624
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Ổn định, tấm micro nhiều lớp, tham số tỉ lệ, đẳng hình học
Chủ đề:
Ổn định công trình
Tóm tắt:
Trong bài báo này, một mô hình số được phát triển cho bài toán mất ổn định của tấm composite nhiều lớp với kích thước micro. Phương trình tổng quát được thiết lập dựa trên lý tấm Reissner-Mindlin và lý thuyết ứng suất couple hiệu chỉnh mới và được giải bằng phương pháp phần tử hữu hạn đẳng hình học. Một tham số kích thước tỉ lệ được dùng để tính toán ứng xử của tấm micro. Độ chính xác của phương pháp được kiểm tra thông qua sự so sánh kết quả đạt được với các phương pháp tham khảo. Thêm vào đó một số ví dụ được thực hiện để kiểm tra sự ảnh hưởng của tham số tỉ lệ, hướng sợi điều kiện biên lên mất ổn định của tấm micro nhiều lớp.
Tạp chí liên quan
- Nghiên cứu đặc tính và đánh giá tiềm năng bảo vệ thần kinh của Vitexin tách chiết từ vỏ đỗ xanh (Vigna radiata L)
- Ứng dụng chuyển đổi số phục vụ thu giá dịch vụ thu gom, vận chuyển và xử lý chất thải rắn sinh hoạt
- Kinh nghiệm quốc tế về áp dụng trách nhiệm mở rộng của nhà sản xuất (EPR) đối với phương tiện giao thông hết hạn, thải bỏ (ELVs)
- Kinh nghiệm quốc tế về phòng ngừa, ứng phó sự cố nước thải, khí thải tại cơ sở sản xuất theo cấp độ rủi ro và đề xuất tài liệu hướng dẫn kỹ thuật cho Việt Nam
- Vi nhựa trong không khí: Vấn đề ô nhiễm mới ở các đô thị





