Tóm tắt:

Bài báo dùng phương pháp biến đổi Wavelet để phân tích độ nhạy của chuyển vị tấm có vết nứt từ chuyển vị thu được trong XFEM. Các giá trị chuyển vị được kiểm chứng bằng phần mềm ANSYS và các nghiên cứu đã được công bố để kiểm tra độ chính xác và hiệu quả của phương pháp.