Nghiên cứu ảnh hưởng của biến dạng lên tính chất điện tử của vật liệu hai chiều đơn lớp MGe2N4 (M = Mo, W) bằng lý thuyết phiếm hàm mật độ
Tác giả: Võ Thị Tuyết Vi, Lê Văn Hùng, Nguyễn Thị Thắm Hồng, Nguyễn Quang Cường, Nguyễn Ngọc Hiếu
Số trang:
Tr. 12-20
Số phát hành:
Số 04 (65)
Kiểu tài liệu:
Tạp chí trong nước
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
541
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Vật liệu hai chiều, tính chất điện tử, lý thuyết phiếm hàm mật độ
Chủ đề:
Hóa lý
Tóm tắt:
Nghiên cứu một cách chi tiết và hệ thống các đặc trưng cấu trúc và tính chất điện tử của vật liệu hai chiều MGe2N4 (M = Mo, W) bằng phương pháp lý thuyết phiếm hàm mật độ. Đồng thời, ảnh hưởng của biến dạng cơ học lên các tính chất điện tử của vật liệu cũng sẽ được khảo sát trong bài báo này.
Tạp chí liên quan
- Ẩn dụ ý niệm về tài chính trong tiếng Việt nhìn từ miền nguồn lửa
- Nghiên cứu cấu trúc thể loại của diễn ngôn tuyên bố tầm nhìn của các cơ sở giáo dục Đại học ở Việt Nam
- Vai trò của từ gần nghĩa trong tiếng Hán
- Chiến lược sử dụng ngôn ngữ đánh giá trong diễn ngôn báo chí về thiên tai: Phân tích diễn ngôn trong hai bản tin tiếng Anh về bão Yagi
- Đặc điểm tính từ trong các bài viết quảng bá du lịch bằng tiếng Pháp





