Chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang
Tác giả: Nguyễn Thái Hoàng, Nguyễn Thị Thùy Hương, Huỳnh Lê Thanh Nguyên, Lê Viết Hải
Số trang:
Tr.42-47
Tên tạp chí:
Khoa học Công nghệ Việt Nam - B
Số phát hành:
Số 3(Tập 62)
Kiểu tài liệu:
Bài giảng Điện tử
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
572
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Độ bền nhiệt, pin mặt trời chất màu nhạy quang, tổng trở điện hóa
Chủ đề:
Điện trở
Tóm tắt:
Trình bày việc chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang. Kết quả cho thấy điện cực quang anod bị suy giảm tính năng thể hiện qua sự tăng tổng trở trên giao diện TiO2/dung dịch điện ly sau 120 giờ phơi nhiệt. Sau 240 giờ phơi nhiệt sự giảm cấp của chất điện ly bắt đầu xảy ra. Thể hiện qua sự tăng điện trở khuếch tán. Sự giảm cấp của dung dịch điện ly còn được chứng minh qua sự phục hồi tính năng của pin khi thay mới dung dịch điện ly vào pin sau 1.000 giờ phơi nhiệt.
Tạp chí liên quan
- Nâng cao hiệu quả hoạt động hỗ trợ doanh nghiệp nhỏ và vừa – Thực tiễn từ thành phố Hà Nội
- Nâng cao hiệu quả thi hành pháp luật về bảo hiểm cháy, nổ bắt buộc đối với nhà chung cư ở Việt Nam
- Nâng cao hiệu quả kiểm soát quyền hành pháp trong Nhà nước pháp quyền xã hội chủ nghĩa Việt Nam
- Yêu cầu tội phạm hóa trong Công ước Liên Hợp Quốc về chống tội phạm mạng và những vấn đề đặt ra đối với việc hoàn thiện quy định của Bộ luật Hình sự Việt Nam
- Thực trạng kiểm sát giải quyết vụ án tranh chấp kinh doanh bất động sản theo thủ tục sơ thẩm và giải pháp