Chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang
Tác giả: Nguyễn Thái Hoàng, Nguyễn Thị Thùy Hương, Huỳnh Lê Thanh Nguyên, Lê Viết Hải
Số trang:
Tr.42-47
Tên tạp chí:
Khoa học Công nghệ Việt Nam - B
Số phát hành:
Số 3(Tập 62)
Kiểu tài liệu:
Bài giảng Điện tử
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
572
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Độ bền nhiệt, pin mặt trời chất màu nhạy quang, tổng trở điện hóa
Chủ đề:
Điện trở
Tóm tắt:
Trình bày việc chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang. Kết quả cho thấy điện cực quang anod bị suy giảm tính năng thể hiện qua sự tăng tổng trở trên giao diện TiO2/dung dịch điện ly sau 120 giờ phơi nhiệt. Sau 240 giờ phơi nhiệt sự giảm cấp của chất điện ly bắt đầu xảy ra. Thể hiện qua sự tăng điện trở khuếch tán. Sự giảm cấp của dung dịch điện ly còn được chứng minh qua sự phục hồi tính năng của pin khi thay mới dung dịch điện ly vào pin sau 1.000 giờ phơi nhiệt.
Tạp chí liên quan
- Bảo đảm quyền của người lao động trong các doanh nghiệp theo pháp luật Trung Quốc và gợi mở cho Việt Nam
- Một số vướng mắc về công nhận sự thỏa thuận của các đương sự khi hòa giải vụ án dân sự tại Tòa án nhân dân và kiến nghị
- Quan điểm, giải pháp bảo đảm minh bạch và trách nhiệm giải trình trong kiểm soát quyền lực nhằm phòng chống tham nhũng ở Việt Nam
- Nhận diện các yếu tố xác định hành vi vi phạm quy định về hạn chế cạnh tranh trong Luật Cạnh tranh Việt Nam
- Một số hạn chế, bất cập trong Luật Tương trợ tư pháp của Việt Nam về dẫn độ và kiến nghị hoàn thiện