Chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang
Tác giả: Nguyễn Thái Hoàng, Nguyễn Thị Thùy Hương, Huỳnh Lê Thanh Nguyên, Lê Viết Hải
Số trang:
Tr.42-47
Tên tạp chí:
Khoa học Công nghệ Việt Nam - B
Số phát hành:
Số 3(Tập 62)
Kiểu tài liệu:
Bài giảng Điện tử
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
572
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Độ bền nhiệt, pin mặt trời chất màu nhạy quang, tổng trở điện hóa
Chủ đề:
Điện trở
Tóm tắt:
Trình bày việc chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang. Kết quả cho thấy điện cực quang anod bị suy giảm tính năng thể hiện qua sự tăng tổng trở trên giao diện TiO2/dung dịch điện ly sau 120 giờ phơi nhiệt. Sau 240 giờ phơi nhiệt sự giảm cấp của chất điện ly bắt đầu xảy ra. Thể hiện qua sự tăng điện trở khuếch tán. Sự giảm cấp của dung dịch điện ly còn được chứng minh qua sự phục hồi tính năng của pin khi thay mới dung dịch điện ly vào pin sau 1.000 giờ phơi nhiệt.
Tạp chí liên quan
- Khảo sát trình trạng dây thần kinh mặt che khuất đế xương bàn đạp trên CT scan ứng dụng trong phẫu thuật điều trị xốp xơ tai
- Đánh giá hiệu quả lọc máu liên tục trong điều trị suy đa tạng do sốc nhiễm khuẩn tại khoa Hồi sức Tích cực Bệnh viện Đa khoa tỉnh Hà Tĩnh
- Đặc điểm lâm sàng và tình trạng chảy máu sau nhổ răng ở bệnh nhân sử dụng thuốc kháng kết tập tiểu cầu tại Bệnh viện Đa khoa Bà Rịa
- So sánh kích thước diện bám mâm chày của dây chằng chéo trước trên MRI và thực tế
- Mối liên quan giữa chỉ số bệnh lý phối hợp c-harlson và tử vong ngày thứ 28 ở bệnh nhân mắc hội chứng suy hô hấp cấp tiến triển





