Chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang
Tác giả: Nguyễn Thái Hoàng, Nguyễn Thị Thùy Hương, Huỳnh Lê Thanh Nguyên, Lê Viết Hải
Số trang:
Tr.42-47
Tên tạp chí:
Khoa học Công nghệ Việt Nam - B
Số phát hành:
Số 3(Tập 62)
Kiểu tài liệu:
Bài giảng Điện tử
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
572
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Độ bền nhiệt, pin mặt trời chất màu nhạy quang, tổng trở điện hóa
Chủ đề:
Điện trở
Tóm tắt:
Trình bày việc chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang. Kết quả cho thấy điện cực quang anod bị suy giảm tính năng thể hiện qua sự tăng tổng trở trên giao diện TiO2/dung dịch điện ly sau 120 giờ phơi nhiệt. Sau 240 giờ phơi nhiệt sự giảm cấp của chất điện ly bắt đầu xảy ra. Thể hiện qua sự tăng điện trở khuếch tán. Sự giảm cấp của dung dịch điện ly còn được chứng minh qua sự phục hồi tính năng của pin khi thay mới dung dịch điện ly vào pin sau 1.000 giờ phơi nhiệt.
Tạp chí liên quan
- Thực trạng hoạt động quản lý chất lượng dịch vụ khám bệnh, chữa bệnh ở các bệnh viện đa khoa công lập hạng II tại thành phố Hà Nội năm 2024
- Đánh giá tác động của đột biển gen IDH1 và sự methyl hóa gen MGMT đến thời gian sống thêm toàn bộ trên bệnh nhân u nguyên bào thần kinh đệm
- Xác định đột biến gen EIF4G1 trên bệnh nhân Parkinson
- Tỷ lệ hiện mắc, các yếu tố nguy cơ và kết quả điều trị tổn thương thận cấp tại Khoa Hồi sức tích cực, Bệnh viện Đa khoa tỉnh Vĩnh Phúc
- Chuyển đổi số, khả năng vượt các rào cản xuất khẩu và tác động đến kết quả xuất khẩu của doanh nghiệp