Chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang
Tác giả: Nguyễn Thái Hoàng, Nguyễn Thị Thùy Hương, Huỳnh Lê Thanh Nguyên, Lê Viết Hải
Số trang:
Tr.42-47
Tên tạp chí:
Khoa học Công nghệ Việt Nam - B
Số phát hành:
Số 3(Tập 62)
Kiểu tài liệu:
Bài giảng Điện tử
Nơi lưu trữ:
03 Quang Trung
Mã phân loại:
572
Ngôn ngữ:
Tiếng Việt
Từ khóa:
Độ bền nhiệt, pin mặt trời chất màu nhạy quang, tổng trở điện hóa
Chủ đề:
Điện trở
Tóm tắt:
Trình bày việc chế tạo và khảo sát độ bền nhiệt của pin mặt trời chất màu nhạy quang. Kết quả cho thấy điện cực quang anod bị suy giảm tính năng thể hiện qua sự tăng tổng trở trên giao diện TiO2/dung dịch điện ly sau 120 giờ phơi nhiệt. Sau 240 giờ phơi nhiệt sự giảm cấp của chất điện ly bắt đầu xảy ra. Thể hiện qua sự tăng điện trở khuếch tán. Sự giảm cấp của dung dịch điện ly còn được chứng minh qua sự phục hồi tính năng của pin khi thay mới dung dịch điện ly vào pin sau 1.000 giờ phơi nhiệt.
Tạp chí liên quan
- Đánh giá đáp ứng sau hóa trị tân hỗ trợ bằng phác đồ Docetaxel, Carboplatin và Trastuzumab ở bệnh nhân ung thư vú có thụ thể HER2 dương tính giai đoạn II, III
- Đặc điểm lâm sàng và đánh giá hiệu quả điều trị tấn công bệnh bạch cầu cấp ở trẻ nhũ nhi tại bệnh viện Truyền máu Huyết học
- Đánh giá hiệu quả điều trị của eltrombopag phối hợp với antithymocyte globulin và cyclosporine trên bệnh suy tủy xương người lớn tại bệnh viện Truyền máu Huyết học
- Phân tích các yếu tố ảnh hưởng đến tình trạng tái phát trong bệnh bạch cầu cấp dòng tủy ở trẻ em
- Bước đầu đánh giá hiệu quả hiệu quả của phác đồ mtr và vai trò của khảo sát MGMT trong u lympho nguyên phát tại hệ thần kinh trung ương





